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量测设备和型号: 基恩士 VR6200

检测精度：         ±0.001mm

设备用途：非接触式地测量物体表面的三维形貌、粗糙度、形状轮廓、平面度

量测设备和型号: 基恩士 LM-X100L

检测精度：         ±0.0007mm

设备用途：工业自动化领域的尺寸和形位公差测量。

量测设备和型号: 日立 TM4000Plus

检测精度：         x10-x100000/5nm

设备用途：进行高倍观察、产品表征和成分分析，特别适合需要快速、简便操作的日常检测

量测设备和型号: 基恩士 VHX-2500R

检测精度：         ±0.001mm

设备用途：高精度观察、分析和测量微小物体的表面形貌与结构细节

量测设备和型号: 岛津 EDX-LE-Plus

检测精度：         ±140ppm

设备用途：用于RoHS/ELV等法规限制的有害元素筛选分析

量测设备和型号: 三丰 SJ-410

检测精度：         ±3%

设备用途：用于检测金属等硬质表面的微观形貌、粗糙度测量

量测设备和型号: 三丰 QV-X404T1L-C

检测精度：         1.5um+2L/1000

设备用途：核心用途聚焦于精密零件的尺寸与形位公差测量

量测设备和型号: 日立 EC-16MHHP

检测精度：         ±0.3℃±2.5%RH

设备用途：用于实验室环境模拟，测试材料或产品在特定温湿度条件下的性能稳定性

量测设备和型号: 尼康 VMZR-3020

检测精度：         1.2um+4L/1000

设备用途：用于工业精密制造中的非接触式三维尺寸检测

量测设备和型号: 三丰 XHVT-1000

检测精度：         ±0.025μm

设备用途：用于测量金属材料的硬度，特别适用于渗碳层、热处理薄片等精密部件的硬度测试

量测设备和型号: 标旗 Sphere-3000-∥

检测精度：         ±0.1%以下(380nm~410nm)

                           ±0.05%以下(410nm~900nm)

设备用途：测量各类光学元件的反射率及透过率光谱寸检测

量测设备和型号: 强力 TM-901EXP

检测精度：         ±（3%of rdg +5digit）

设备用途：测量机械加工后工件的残留磁力

量测设备和型号: 尼康 MS-12C

检测精度：         ±0.001mm

设备用途：进行高精度的高度及深度测量

量测设备和型号:奥林巴斯 USPM-RU-W

检测精度：         ±0.1%(380 nm~410 nm)

                           ±0.01%(410 nm~700 nm)

设备用途：高速、高精度地测量微小区域或曲面样品的反射率、颜色

量测设备和型号: 川嘉 CJ-HLC300

检测精度：         ±5%

设备用途：测量洁净环境中单位体积内尘埃粒子数和粒径分布

量测设备和型号:金河源 JHY-5000

检测精度：        ±1%

设备用途：对各种材料进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、剥离、撕裂等力学性能测试